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        射頻輻射抗擾度測(cè)試 (輻射敏感度/抗擾度測(cè)試)

        瀏覽次數(shù): | 2018-09-07 15:44

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              1.射頻輻射抗擾度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

          IEC61000-4-3, GB/T17626.3

          2.造成射頻輻射的起因:

          射頻輻射電磁場(chǎng)對(duì)設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話時(shí)所產(chǎn)生的,其他如無線電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無線電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射),以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無意發(fā)射),也都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。

          3. 射頻輻射抗擾度測(cè)試目的

          建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。

          4. 射頻輻射抗擾度測(cè)試的嚴(yán)酷度等級(jí):

          測(cè)試頻率范圍:80MHz~2GHz

          主要測(cè)試設(shè)備:信號(hào)發(fā)生器,接收機(jī),全電波暗室

          試驗(yàn)等級(jí):

          等級(jí) 試驗(yàn)場(chǎng)強(qiáng)/(V/m)

          1   1

          2   3

          3   10

          X   特定

          注:X是一開放的等級(jí),可在產(chǎn)品規(guī)范中規(guī)定。

          5. 射頻輻射抗擾度模擬試驗(yàn)

          隨著技術(shù)的發(fā)展,電磁環(huán)境也隨著惡化,測(cè)試頻率已由早期的(27~500)MHz,擴(kuò)展到(80~1000)MHz。其中高頻段的擴(kuò)展是與移動(dòng)電話的普遍使用有關(guān),它的工作頻率現(xiàn)已擴(kuò)展到900MHz(甚至更高);對(duì)80MHz的選擇則與對(duì)測(cè)試場(chǎng)地的要求、對(duì)射頻功率放大器的功率要求和對(duì)天線的選用要求有關(guān)。至于80MHz以下部分,將由IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)加以補(bǔ)充。

          試驗(yàn)時(shí)要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制,調(diào)制深度為80%。

          6. 射頻輻射抗擾度基本試驗(yàn)儀器

          (1)信號(hào)發(fā)生器(主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等)。

          (2)功率放大器(要求在3m法或10m法的情況下,達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品,也可以采用1m法進(jìn)行試驗(yàn),但當(dāng)1m法和3m法的試驗(yàn)結(jié)果有爭(zhēng)執(zhí)時(shí),以3m法為準(zhǔn))。

          (3)天線(在不同的頻段下使用雙錐和對(duì)數(shù)周期天線。國(guó)外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線)。

          (4)場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭。

          (5)場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)備。

          當(dāng)在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計(jì)、計(jì)算機(jī)(包括專用的控制軟件)、場(chǎng)強(qiáng)探頭的自動(dòng)行走機(jī)構(gòu)等,可構(gòu)成一個(gè)完整的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

          7. 射頻輻射抗擾度測(cè)試的場(chǎng)地

          最好采用電波暗室(主要考慮場(chǎng)地均勻性問題。如果在這個(gè)電波暗室中還要考慮產(chǎn)品本身在工作中產(chǎn)生的電磁波騷擾測(cè)試時(shí),則這個(gè)電波暗室還涉及到與開闊場(chǎng)的比對(duì)問題)。

          為了保證試驗(yàn)結(jié)果的可比性和重復(fù)性,要對(duì)試驗(yàn)場(chǎng)地的均勻性進(jìn)行校驗(yàn)。

          試驗(yàn)方法

          試驗(yàn)在電波暗室中進(jìn)行,試驗(yàn)時(shí)人員不能進(jìn)入,用工業(yè)電視監(jiān)視試品的工作情況(或從試品引出可以說明試品工作狀態(tài)的信號(hào)至測(cè)定室,由專門儀器予以判定)。暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及工業(yè)電視攝象機(jī)。

          工作人員、測(cè)定試品性能的儀器、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)備在測(cè)定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。

          試驗(yàn)中,對(duì)試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時(shí)重現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果。

                                     EMC

         

                 


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