傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試

　　射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試所研究的騷擾源通常是指來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場。 該電磁場可能作用于連接安裝設(shè)備的整個電纜上。雖然被騷擾設(shè)備的尺寸比騷擾頻率的波長小，但I(xiàn)/O線，例如電源線、通信線、接口電纜等，由于其長度可能是幾個波長、則可能成為無源的接收天線網(wǎng)絡(luò)。

　　假定連接設(shè)備的電纜網(wǎng)絡(luò)是處于諧振的方式(入/4和入/2開路或折合偶極子，電纜系統(tǒng)間的敏感設(shè)備易受到流經(jīng)設(shè)備的騷擾電流的影響，并由相對于參考接地平面(板)具有 150Ω共模阻抗的耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)代表這種電纜系統(tǒng)。

　　測量方法是使受試設(shè)備在騷擾源作用下形成的電場和磁場來模擬來自實際發(fā)射機(jī)的電場和磁場。這些騷擾場是由試驗配置所產(chǎn)生的電壓或電流所形成的近區(qū)電場和磁場來近似表示 的。用耦合和去耦裝置提供騷擾信號給某一電纜，同時保持其他電纜不受影響，只近似于騷擾源以不同的幅度和相位范圍同時作用于全部電纜的實際情況。

　　1. 射頻輻射抗擾度測試試驗等級

　　試驗等級定義的頻率范圍為150kHz-8MHz。9-150Khz頻率范圍內(nèi)，對來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場所引起的感應(yīng)騷擾不要求測量。試驗等級如表1所示。

　                                            表1，試驗等級

　　試驗等級選擇主要依據(jù)設(shè)備和電纜實際安裝時所接觸的電磁環(huán)境。表6-16中的等級劃 分依據(jù)如下。

　　b. 2類：中等電磁輻射環(huán)境。用在設(shè)備飭低功率便攜式發(fā)射機(jī)(典型額定值小于1W)。典型的商業(yè)環(huán)境。

　　c. 3類：嚴(yán)酷電磁輻射環(huán)境。用于相對靠近設(shè)備，但距離不小于1m的手提式發(fā)射接收機(jī)(≥2W),用在靠近備的高功率廣播緒機(jī)和可能靠近工科醫(yī)設(shè)備。典型的工業(yè)環(huán)境。

　　d. X類：特定產(chǎn)品通過協(xié)商或由產(chǎn)品規(guī)范和產(chǎn)品的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的開放等級。 選擇適用等級時，還要考慮到受試設(shè)備產(chǎn)生故障的后果，當(dāng)產(chǎn)生的后果嚴(yán)重時可以考慮 采用更嚴(yán)格的試驗等級。

　　2. 射頻輻射抗擾度測試試驗設(shè)備

　　(1) 試驗信號發(fā)生器

　　試驗信號發(fā)生器包括在所要求點(diǎn)上以規(guī)定的信號電平將騷擾信號施加給每個耦合裝置輸 人端口的全部設(shè)備和部件。試驗信號發(fā)生器的部件包括：射頻信號發(fā)生器G1，衰減器T1 (典型0?40dB、射頻開關(guān)S1、寬帶功率放大器PA、低通濾波器(LPF)和/或高通濾波器(HPF)、衰減器T2。具體的組合如圖1所示。
                                                           圖1，試驗信號發(fā)生器的配置


                                                  表2試驗信號發(fā)生器的特性

　　(2) 耦合和去耦裝置

　　為使騷擾信號合適地耦合到連接受試設(shè)備的各種電纜上，應(yīng)用耦合和去耦裝置。耦合和 去耦裝置可組合成一個盒子，或由幾部分組成。耦合和去耦裝置的主要參數(shù)共模阻抗，在受試設(shè)備端口看進(jìn)去應(yīng)符合表6-1&所示。

                                                  表3，耦合和去耦裝置的主要參數(shù)

　　(3) 耦合和去耦裝置的受試設(shè)備端口上共模阻抗的校驗

　　耦合和去耦裝置是由受試設(shè)備端口上看進(jìn)去的共模阻抗∣Zce∣來表征的，其值的正確性保證了測量結(jié)果的重現(xiàn)性。

　　耦合和去耦合裝置與阻抗參考平面應(yīng)放在參考接地平面上，參考接地平面的尺寸應(yīng)超過設(shè)備所有邊的幾何投影尺寸至少0.2m。使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀或阻抗儀應(yīng)有50Ω的參考阻抗，應(yīng)在阻抗參考平面上校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀。在阻抗參考鏈接點(diǎn)和受試連接點(diǎn)和受試設(shè)備端口之間必須用短線連接線(≤30mm)的幾何尺寸驗證∣Zce∣。

　　(4) 試驗配制

　　受試設(shè)備應(yīng)放在參考接地平面上面0.1m高的絕緣支架上,將合適的耦合和去親裝置提 供給全部有關(guān)電纜。裝置與參考接地平面上受試設(shè)備的幾何投影在0.1-0.3m范圍內(nèi)。對屏蔽電纜是將騷擾信號電流注人到電纜的屏蔽層，對非屏蔽電纜是將騷擾信號通過耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN)注入各條饋線上。射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗配置如圖2所示。

　　                                                圖2，射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗配置圖

　　3. 射頻輻射抗擾度測試步驟

　　注入電流試驗中，注入方法的選擇是進(jìn)行試驗的第一步，根據(jù)設(shè)備的性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)可 選擇以下注入方式。

　　(1) 直接注入

　　來自信號發(fā)生器的騷擾信號通過100Ω的電阻被注人到同軸電纜的屏蔽層上，在輔助設(shè)備和注人點(diǎn)之間盡可能靠近注入點(diǎn)處插人一個去耦網(wǎng)絡(luò)。此去耦網(wǎng)絡(luò)通常由各種電感組成，以便在整個頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生高阻抗，一般要求在150kHz的頻率上至少是280µ的電感量。同時要求電抗足夠高，在26MHz以下頻率電抗應(yīng)≥260Ω，在26MHz以上頻率電抗應(yīng)≥150Ω。

　　另外，去耦網(wǎng)絡(luò)還應(yīng)用于不被測量但連接到受試設(shè)備或輔助設(shè)備的全部電纜上。

　　(2) 鉗注入法

　　鉗注入法是指采用電流鉗或電磁鉗實現(xiàn)#號發(fā)生器和受試設(shè)備連接的方法。電流鉗的作 用是對連接到設(shè)備的電纜建立感性耦合，電磁鉗的作用是對連接受試設(shè)備的電纜建立感性和 容性耦合。這兩種鉗注入裝置耦合和去耦部分都是分開的，由鉗式裝置提供耦合，而共模阻 抗和去耦功能是建立在輔助設(shè)備上的。

　　注人法的具體程序由圖3給出
                                                              　圖3，注入法選擇程序

　　對于來自試驗配置的輻射應(yīng)遵守有關(guān)干擾法則，當(dāng)輻射的能量超過允許的電平時，應(yīng)在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行試驗。依次將試驗信號發(fā)生器連到每個耦合和去耦裝置上，而其他不被激勵的 耦合裝置的射頻輸入端口應(yīng)端接50Ω電阻負(fù)載。為了防止諧波干擾受試設(shè)備，應(yīng)使用濾波器。試驗信號在每一頻率上的駐留時間不應(yīng)少于受試設(shè)備所需的運(yùn)行和響應(yīng)時間。試驗期間應(yīng)設(shè)法充分操作受試設(shè)備，并充分審查抗擾度試驗所選擇的全部操作方式，推薦使用專門的操作程序。

　　無論是直接注人還是鉗注入，均應(yīng)對騷擾源的電平進(jìn)行調(diào)整，按所需的試驗電平進(jìn)行試 驗。具體方法是用手動或自動方法在150kHz-80MHz (或230MHz)頻率范圍進(jìn)行掃描，按試驗判據(jù)檢查受試設(shè)備的功能和性能是否正常。掃描速率不能超過1，5×10-3十倍頻程/S。當(dāng)掃描速率曾加時，步進(jìn)大小不應(yīng)超過起始頻率的1%，此后步進(jìn)的大小不應(yīng)超過前一頻率值的1%，在每一頻率上的駐留時間不應(yīng)小于受試設(shè)備—的運(yùn)行和響應(yīng)時間。

　　以上為共模注入騷擾信號的方法，共模注入點(diǎn)是指受試設(shè)備注入騷猶信號的點(diǎn)，對連接電纜而言是電纜的屏蔽層，對非屏蔽饋線(如電源線)是指注入網(wǎng)絡(luò)中RC線路與每根線相交的點(diǎn)。

　　在未調(diào)制時，試驗信號發(fā)生器的特性由表2給出。
       
        如果您有傳導(dǎo)方面的測試需求,歡迎隨時聯(lián)系我們,13543272595