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跌落試驗
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手機(jī)跌落測試方法及測試標(biāo)準(zhǔn)介紹
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手機(jī)跌落測試（Drop Test）是模擬用戶在使用過程中從手中、口袋中、或者桌面上跌落到地上過程的測試，簡單地說，就是測試產(chǎn)品的抗摔能力，抗摔能力越好表明產(chǎn)品在摔落到地上后損壞的可能性越小。手機(jī)跌落試驗適用于確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間遭受的抗跌落能力，確定安全要求用的最低牢固等級。
手機(jī)跌落測試
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對于PDA手機(jī)，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m）
測試目的：跌落沖擊試驗
試驗方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)進(jìn)行跌落。對于直握手機(jī)，進(jìn)行6個面的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機(jī)，進(jìn)行8個面的自由跌落實驗；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機(jī)的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對外觀、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
口試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法試驗Ed：自由跌落
本試驗分為兩種方法。第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落，釋品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設(shè)備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來實現(xiàn)的。
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