胡玲 2012年進(jìn)入億博檢測(cè)技術(shù)有限公司,擔(dān)任高級(jí)銷(xiāo)售顧問(wèn)。
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跌落試驗(yàn)
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包裝跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及方法-跌落試驗(yàn)?zāi)睦镒觯?/h1>
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跌落測(cè)試概述
跌落測(cè)試是一種用于評(píng)估產(chǎn)品在意外跌落情況下性能的測(cè)試方法。這種測(cè)試通常用于評(píng)估產(chǎn)品的抗沖擊性能和穩(wěn)定性。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制方面,跌落測(cè)試都具有重要意義。通過(guò)模擬產(chǎn)品在使用、儲(chǔ)存、運(yùn)輸或裝配過(guò)程中可能受到的各種外界機(jī)械應(yīng)力,來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品對(duì)機(jī)械環(huán)境的適應(yīng)能力。
跌落試驗(yàn)的目的
跌落試驗(yàn)的主要目的是確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適用性,或確定滿(mǎn)足安全要求的最低牢固等級(jí)。通過(guò)跌落試驗(yàn),能夠評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的抗沖擊能力,從而提高產(chǎn)品的可靠性和用戶(hù)安全性。
跌落試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T 2423.8-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
2.IEC 60068-2-32-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
3.GB/T 4857.5-包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法
跌落試驗(yàn)的測(cè)試條件
1.跌落高度:測(cè)試的高度取決于產(chǎn)品重量,單位為mm或m。
2.跌落表面:產(chǎn)品接觸的表面一般為鋼板。
3.跌落位置:跌落測(cè)試對(duì)產(chǎn)品的面、角、棱進(jìn)行。
4.跌落次數(shù):裸機(jī)一般為1面/次*6面;包裝件根據(jù)角、棱、面進(jìn)行跌落,一般為10次或26次。
跌落試驗(yàn)的跌落高度要求
跌落方式通常是一角、三邊、六面之自由落體,跌落的高度根據(jù)產(chǎn)品重量而定。
1.包裝貨物重量0.45kg~9.54kg,跌落高度為76.2cm;
2.包裝貨物重量9.55kg~18.63kg,跌落高度為60.96cm;
3.包裝貨物重量18.64kg~27.72kg,跌落高度為45.72cm;
4.包裝貨物重量27.73kg~45.45kg,跌落高度為30.48cm;
第三方跌落試驗(yàn)測(cè)試機(jī)構(gòu)
億博檢測(cè)專(zhuān)注于汽車(chē)電子、消費(fèi)電子等領(lǐng)域的可靠性檢測(cè)服務(wù),服務(wù)對(duì)象涵蓋半導(dǎo)體、電子元器件、材料、通訊、新能源、汽車(chē)、航天航空、教育及科研等多個(gè)領(lǐng)域。實(shí)驗(yàn)室配備了業(yè)界一流的測(cè)試設(shè)備,基于相關(guān)產(chǎn)品及元器件的失效原理,對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行可靠性檢測(cè)、失效分析以及功能性能驗(yàn)證。
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