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        關(guān)于CE-EMC的常見測試方法介紹

        瀏覽次數(shù): | 2019-10-23 09:05

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          關(guān)于CE-EMC常見測試方法介紹
         
          EMC檢測(電磁兼容性檢測)是檢測設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。在這里,我們將介紹幾種常見關(guān)于CE-EMC測試方法。
         
        EMC測試
         
          1.磁場測試
         
          磁場測試使用EMC測試設(shè)備來模擬磁場的影響并確保設(shè)備繼續(xù)正常運行。需要此類抗擾度測試的典型設(shè)備包括CRT顯示器,電動麥克風等。
         
          2.電壓跌落測試
         
          顧名思義,電壓跌落測試可測試突然電壓驟降或其他電源中斷對設(shè)備的影響。這復制了掉電的影響,以及設(shè)備可能遇到的AC電源網(wǎng)絡(luò)的正常波動。在電壓跌落測試中,抽頭自耦變壓器和抗擾度測試系統(tǒng)將進行一系列模擬,具有不同長度和嚴重性的下降和漏失。
         
          電壓跌落測試還用于測試設(shè)備在完全停電后成功重啟的能力。
         
          3.浪涌抗擾度測試
         
          電磁浪涌可能由多種因素引起,包括間接雷擊和常規(guī)電源切換事件。出于合規(guī)性和可靠性的目的,必須正確地防止低頻電源浪涌對許多消費品的影響。
         
          即使瞬間電涌也會導致電弧放電,電纜故障,電機損壞以及許多其他問題。浪涌模擬需要使用專門的EMC測試設(shè)備來確認安裝了適當?shù)谋Wo電路,確保產(chǎn)品上市時不會出現(xiàn)任何責任問題。
         
          4.進行免疫測試
         
          傳導抗擾度測試包括模擬由同一電源網(wǎng)絡(luò)供電的其他設(shè)備的潛在干擾,或者電感耦合到其I/O線路上?梢允褂脦追N不同類型的EMC測試設(shè)備來完成此操作,包括CDN,BCI探頭和直接電壓注入設(shè)備。
         
          5.輻射免疫測試
         
          輻射抗擾度測試評估設(shè)備在暴露于不同電場源時正常運行的能力。電磁噪聲可以來自各種來源,從手機和微波到Wi-Fi路由器。
         
          6.ESD測試
         
          靜電放電(ESD)是指由于積聚的靜電而發(fā)生的電擊靜電放電(地毯沖擊)。這些短暫的能量爆發(fā)可能會導致許多問題,例如IC端口損壞,通信故障,LCD屏幕損壞等。
         
          ESD測試使用EMC測試設(shè)備進行,該測試設(shè)備產(chǎn)生短暫的能量突發(fā),通常為4kV和8kV。測試設(shè)備配備有模擬直接接觸和空氣傳輸電荷的尖端。
         
          7.電快速瞬變測試
         
          EFT-電快速瞬變-測試復制由電網(wǎng)上的感應(yīng)負載切換引起的干擾。脈沖發(fā)生器用于模擬電氣開關(guān),電動機和繼電器,熒光燈鎮(zhèn)流器和其他常見的瞬態(tài)原因可能對被測設(shè)備產(chǎn)生的影響。不正確的接地或共模提交可能導致故障,內(nèi)部損壞,輔助設(shè)備問題,通信問題等。
         
          EFT測試通常在交流或直流電源端口以及信號/控制端口上執(zhí)行,信號/控制端口可連接到長度超過3米的電纜。
         
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